安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 兆歐表檢定裝置 30年經(jīng)驗

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)範(fàn)圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。從少量到大量泄漏泄漏的嚴(yán)重程度由氣體流速表示。氣流由Hi-flowSampler而非熱像儀測得。氣體流速小於.1立方英尺/分鐘(cfm)被視為輕度泄漏，.1至.5cfm被視為中度泄漏，大於.5cfm被視為重度泄漏。檢測人員共發(fā)現(xiàn)1,977處泄漏。其中65%，或者說1,291處泄漏，為輕度泄漏。其中32%，或者說63處泄漏，為中度泄漏。另外3%，或者說56處泄漏，為重度泄漏。發(fā)現(xiàn)的泄漏僅為.1cfm，而泄漏達(dá)7.85cfm。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級  0.5級  0.2級當(dāng)轉(zhuǎn)換開關(guān)K與零線接通時，測試儀所采樣的是中線與外殼間的泄漏電流；當(dāng)K與相線接通時，測試的是相線與外殼間的泄漏電流。必須注意的是：K與零線接通或K與相線接通，泄漏電流不一定相同。這是因為家用電器絕緣弱點的位置是隨機(jī)的。泄漏電流測試應(yīng)通過K轉(zhuǎn)換極性，取其中的較大值作為被測電熱的泄漏電流值。測試注意事項在工作溫度下測量泄漏電流時，如果被測電器不是通過隔離變壓器供電，被測電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範(fàn)圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100HzTEMCELL一般隻找方值，使測試結(jié)果對擺放的位置比較敏感。另外，還有一種測試工具較箱，有的設(shè)計公司用來對天線進(jìn)行有源測試，這種方法很不可行。一方麵由於測試距離太近，另一方麵由於冇有足夠的吸波材料，外部乾擾對天線的測試影響比較大，這樣導(dǎo)致測試結(jié)果對位置比較敏感，稍微改變一下位置測試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測試方法對天線的性能冇有多少的參考意義。用耦合測試板測試天線性能在生產(chǎn)過程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進(jìn)行天線的耦合測試。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。結(jié)論是：一段高阻抗線可以等效為電感，一段低阻抗線等效為一個到地電容。（如果理解傳輸線的特征阻抗用微分形式的集總參數(shù)表示為sqrt（L/C），高阻L一定很大，低阻C一定很大，就可以比較形象的理解此等效原理。）高低阻抗線等效電路3.平麵低通設(shè)計實列一個平麵低通遵循下列設(shè)計步驟。1)規(guī)劃高低阻抗線阻抗，高阻受限於線條加工能力和功率容量，一般小功率應(yīng)用可以取到0.15mm，低阻寬度受到濾波器尺寸限製，受到長寬比限製。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測試儀校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN係列 兆歐表檢定裝置 30年經(jīng)驗紅外攝像機(jī)因為無損檢測使用的紅外攝像機(jī)要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時間分辨率的高幀速率。每個像素的空間分辨率由與紅外攝像機(jī)一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測大型目標(biāo)和精細(xì)區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機(jī)。2.光激發(fā)無損檢測-光學(xué)增強(qiáng)方法的基本原理為光激發(fā)無損檢測裝置概圖。該方法分為所示的脈衝熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈衝熱成像的基本原理脈衝熱成像方法通過瞬間燈光激發(fā)使測量對象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過程中，通過圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時間相位滯後。