安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN係列 兆歐表校驗裝置 生產(chǎn)廠家

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T為什麼這麼說呢？我們來看一個設(shè)計示例：0-1012V標(biāo)稱值、5mΩ的感測電阻。：明顯的電流檢測方案使用差分放大器。這種方案甚至都不需考慮使用分立電阻，除非它們是精密匹配網(wǎng)絡(luò)的一部分（當(dāng)然也就不是真正分立的）。對於1V的電源電壓偏移和80dB的差分放大器CMRR（這意味著約0.01％的電阻匹配），你會看到相當(dāng)於20mA的電流漂移（1V變化、80dB的CMRR導(dǎo)致輸入0.1mV偏移，再除以5mΩ檢測電阻的5mV/A標(biāo)定）。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)範(fàn)圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。M9703A具有實時DDC功能和超高帶寬，可作為該測試係統(tǒng)的解決方案，特彆適用於校準(zhǔn)應(yīng)用。其多模塊處理同步功能可提供的通道間相位相參性。雖然參考解決方案針對的是窄帶測量，但是M9703A也能捕獲帶寬更寬的信號（使用DDC特性時可達(dá)300MHz，不使用DDC時可達(dá)600MHz）。假設(shè)大多數(shù)相位陣列天線都是在射頻/微波頻率上，並且使用一個中頻數(shù)字轉(zhuǎn)換器，此時有必要利用模擬混頻技術(shù)將捕獲到的信號下變頻至M9703A通帶內(nèi)的中頻。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級  0.5級  0.2級無人機(jī)可搭載可見光相機(jī)和紅外熱像儀進(jìn)行航拍，不受空間和地理位置的局限，熱像儀通過探測物體本身發(fā)出的紅外線，對景物溫度分布進(jìn)行成像，能在能見度低和有危險性位置進(jìn)行探測，兩者技術(shù)的重疊可用於夜視追蹤、搜尋救援、設(shè)備巡檢、農(nóng)林牧漁等領(lǐng)域，尤其是在一些災(zāi)難預(yù)防以及監(jiān)測中，也發(fā)揮不可小覷的作用。熱成像+智能化監(jiān)控經(jīng)曆了由人力值守、辨彆發(fā)展到機(jī)器自動的發(fā)展過程，已經(jīng)完成了由事後檢索逐步過渡到自動化、智能化的身份轉(zhuǎn)變。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範(fàn)圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100Hz數(shù)字示波器是一種通用測試儀表，本質(zhì)上是一種圖形顯示設(shè)備，相當(dāng)於具有圖形顯示的電壓表或萬用表，能在屏幕上直觀的顯示信號隨時間變化的波形，並對波形的周期、電壓、頻率等參數(shù)進(jìn)行測量和，廣泛應(yīng)用於科研、生產(chǎn)等各個領(lǐng)域，是工程師設(shè)計，調(diào)試，維修產(chǎn)品時的主要測試儀表，對測試工作起著舉足輕重的作用。很多工程師在使用數(shù)字示波器時，都會遇到這樣一些問題：用計量合格的數(shù)字示波器測得的信號幅度和頻率等數(shù)據(jù)有時會與信號本身設(shè)計值相差很遠(yuǎn)，於是就去找電路的問題，但費時費力後，卻一無所獲，不知問題出在哪裡。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

回路電阻測試儀檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN係列 兆歐表校驗裝置 生產(chǎn)廠家在壓力監(jiān)測時，這些傳感器還涉及安裝困難、長期穩(wěn)定性差等問題。井下光纖傳感器冇有井下電子線路、易於安裝、體積小、抗乾擾能力強(qiáng)等優(yōu)點，而這些正是井下監(jiān)測所必需的。美國CiDRA公司的在光纖壓力監(jiān)測研究方麵處於前沿，他們的科研人員發(fā)現(xiàn)了布喇格光纖光柵傳感器對壓力的線性響應(yīng)。已開發(fā)的傳感器能夠工作到175oC，2oC和稍高溫度的產(chǎn)品正在開發(fā)，25oC是研發(fā)的下一個目標(biāo)。不同溫度和壓力下的壓力測量誤差，在測試範(fàn)圍(MPa~34.5MPa)內(nèi)，均小於±6.89kPa，相當(dāng)於電子測量係統(tǒng)的的水平。