青島華能供應(yīng) 低效高法電壓互感器現(xiàn)場測試儀 用心品質(zhì)HN10A互感器特性綜合測試儀

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等. 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)、儀表保安係數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁係數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.WLP(WaferLevelPackaging)：晶圓級封裝，是一種以BGA為基礎(chǔ)經(jīng)過改進(jìn)和提高的CSP，直接在晶圓上進(jìn)行大多數(shù)或是的封裝測試程序，之後再進(jìn)行切割製成單顆組件的方式。上述封裝方式中，係統(tǒng)級封裝和晶圓級封裝是當(dāng)前受到熱捧的兩種方式。係統(tǒng)級封裝因涉及到材料、工藝、電路、器件、半導(dǎo)體、封裝及測試等技術(shù)，在技術(shù)發(fā)展的過程中對以上領(lǐng)域都將起到帶動作用促進(jìn)電子製造產(chǎn)業(yè)進(jìn)步。晶圓級封裝可分為扇入型和扇出型，IC製造領(lǐng)域巨頭臺積電能夠拿下蘋果A10訂單，其開發(fā)的集成扇出型封裝技術(shù)功不可冇。

自動給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值係數(shù)（ALF）、 儀表保安係數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁係數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。另外，重心法需要使用至少兩根譜線，而且受窗函數(shù)主瓣寬度限製，頻率重心法所能支持的頻率下限隻能達(dá)到頻率分辨率的三倍以上。由於頻率重心法冇有反饋過程，不依賴於信號，模擬電路實(shí)現(xiàn)簡單，理論上隻要采樣率和使用的數(shù)據(jù)點(diǎn)足夠，就能得到正確的結(jié)果。特彆地，因?yàn)橥讲蓸有枰布娐?，受限與成本與體積，大部分測量儀器隻支持一到兩個(gè)PLL源，而頻率重心法無此限製，甚至可任意定義基波源（對應(yīng)於PLL源，用於確定基波）。應(yīng)用實(shí)例PA功率儀提供了三種諧波模式：常規(guī)諧波、諧波和IEC諧波。

具體接線步驟和說明如下：

斷開電力線與CT一次側(cè)的連接，未接地的電力線較長，會給CT一次側(cè)的測量引入較大乾擾，參見圖3.4。

將CT一次側(cè)一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)黑色端子將CT一次側(cè)另一端連接至CTPT儀CT一次側(cè)/PT二次側(cè)紅色端子將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照圖3.3所示，斷開被測CT二次側(cè)和二次負(fù)荷的連接在對變比值相同的多繞組電流互感器進(jìn)行CT或CT比差角差測試時(shí)，冇有測試的二次繞組應(yīng)短接，否則測試誤差將會偏大保護(hù)10P10，平麵低通濾波器簡介隨著現(xiàn)在微波鏈路越來越高頻化，小型化，直接在鏈路中集成低通的現(xiàn)象越來越普遍。同時(shí)很多芯片化的低通也大都是在高介電陶瓷片上實(shí)現(xiàn)的微帶濾波器。陶瓷片型的芯片電容，電感，均衡器都需要用到平麵低通的設(shè)計(jì)概念。常見的低通濾波器在ADS中的模型及結(jié)構(gòu)形式見。常見的平麵結(jié)構(gòu)低通濾波器三種結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)對比見表1，通常對要求比較高的設(shè)計(jì)時(shí)可綜合三種結(jié)構(gòu)的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行折中設(shè)計(jì)。表1三種結(jié)構(gòu)優(yōu)缺點(diǎn)對比2.平麵低通濾波器設(shè)計(jì)的理論基礎(chǔ)本次總結(jié)的理論基礎(chǔ)來源，核心理論為的高低阻抗線等效電路。暫態(tài)TPY三個(gè)繞組的2000/1的CT，進(jìn)行0.5級繞組的比差角差測量時(shí)應(yīng)按照圖3因?yàn)樘綔y器口的位置及擋板的設(shè)置是固定的，而不同的反射分布直接表現(xiàn)為信號起伏。在普通的測量係統(tǒng)中，不同的正向發(fā)散角的LE同一LED不同的放置方向、同一方向不同位置等差異，即使光通量是一致，表現(xiàn)出來的測量值也表現(xiàn)出的差。根據(jù)客戶的驗(yàn)證結(jié)果，普通LED測量係統(tǒng)LED的放置方向?qū)馔繙y量結(jié)果的影響往往超過50%(這一點(diǎn)尤其在國產(chǎn)設(shè)備上表現(xiàn)特彆明顯)。在測量不同LED不同發(fā)光角度時(shí)，由於在積分球內(nèi)表麵的分布差異使得直接反射的分布對探測器的影響也不同，從而直接影響到兩者測量的準(zhǔn)確性的差異。.4.1進(jìn)行接線具體接線步驟和說明如下：將CTPT儀的接地柱連接到保護(hù)地PE將按照圖3.6所示，斷開PT二次側(cè)和二次回路的連接將CTPT儀功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的黑色端子連接至二次負(fù)荷的一端，參見圖3.6將CTPT功率輸出和CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的紅色端子連接至二次負(fù)荷的另一端為了消除接觸電阻的影響，在連接CTPT儀的端子時(shí)，CT二次側(cè)/PT一次側(cè)的連接端子應(yīng)保持在功率輸出端子的內(nèi)側(cè)OTA測試可以將產(chǎn)品內(nèi)部輻射乾擾、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、天線的因素、射頻芯片收發(fā)算法等因素考慮進(jìn)去，是非常接近產(chǎn)品實(shí)際使用場景的測試手段。我們以早的3GUESISOOTA測試為例來了解OTA測試所需的基本環(huán)境：吸波暗室，轉(zhuǎn)盤（控製UE旋轉(zhuǎn)）天線（在某一固置接收UE輻射信號）用於提供天線虛擬信號的無線測試平臺（如KeysightUXM係列，圖中未顯示）測量過程中將通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺來控製並測量UE天線在不同方向的輻射特性。青島華能供應(yīng) 低效高法電壓互感器現(xiàn)場測試儀 用心品質(zhì)