HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀斷路器儀 HN11C系列 直流斷路器安秒特性測(cè)試儀 廠家直供
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！2017年《電動(dòng)汽車(chē)傳導(dǎo)充電互操作性標(biāo)準(zhǔn)》征求意見(jiàn)終稿的發(fā)布，電動(dòng)汽車(chē)及充電樁行業(yè)即將具備一個(gè)詳細(xì)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。在這個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的監(jiān)督下電動(dòng)汽車(chē)與充電樁的兼容匹配性將會(huì)大大提高。本文將為大家淺析交流樁的互操作性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試系統(tǒng)組成標(biāo)準(zhǔn)中提及了交流充電樁測(cè)試系統(tǒng)的組成，如圖所示。主要包括車(chē)輛控制器模擬盒（測(cè)試交流充電樁的充電控制過(guò)程、異常充電狀態(tài)以及連接控制時(shí)序等）、交流電源（模擬電網(wǎng)供電特性）、負(fù)載（模擬電池消耗充電樁的輸出能量）、測(cè)試儀器（測(cè)量充電樁的電氣特性及控制信號(hào)狀態(tài)等）、主控機(jī)（控制車(chē)輛控制器模擬盒模擬充電過(guò)程的不同狀態(tài)、采集記錄測(cè)試儀器的測(cè)量數(shù)據(jù)生成測(cè)試報(bào)告）。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；我們很自豪能夠提供高度差異化的黑黃蜂PRS，來(lái)支持美國(guó)實(shí)現(xiàn)保護(hù)戰(zhàn)士的目標(biāo)?！贝舜魏贤瑪U(kuò)展了FLIR的黑黃蜂PRS在**監(jiān)視和偵察項(xiàng)目中的使用。FLIR已向3個(gè)提供了黑黃蜂PRS系統(tǒng)，而美國(guó)將在士兵隨身傳感器項(xiàng)目中獲得一代的系統(tǒng)。BlackHornet3將實(shí)時(shí)和靜態(tài)圖像傳回給操作人員，為地面單位擴(kuò)大了視野，特別是在復(fù)雜的城市環(huán)境中。BlackHornet3即使在離人非常近的距離內(nèi)也幾乎是無(wú)聲的，這使它成為了所有任務(wù)的關(guān)鍵工具。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤(pán)存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤(pán)，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為T(mén)estercenter的界面，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)范測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。