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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):HN10A
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
CT勵(lì)磁/直阻/變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接CT二次側(cè); PT變比/極性/角差/比差試驗(yàn),接被測(cè)PT一次側(cè)(高壓側(cè)); PT勵(lì)磁/直阻試驗(yàn)時(shí),接被測(cè)PT二次繞組(低壓側(cè))微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀
詳情介紹:

半導(dǎo)體材料研究和器件測(cè)試通常要測(cè)量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導(dǎo)體材料的電阻率主要取決于體摻雜,在器件中,電阻率會(huì)影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓。霍爾電壓測(cè)量用來(lái)推導(dǎo)半導(dǎo)體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導(dǎo)體范德堡法電阻率和霍爾電壓,進(jìn)行電氣測(cè)量時(shí)需要一個(gè)電流源和一個(gè)電壓表。為自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量,一般會(huì)使用一個(gè)可編程開(kāi)關(guān),把電流源和電壓表切換到樣本的所有側(cè)。A-SCS參數(shù)儀擁有4個(gè)源測(cè)量單元(SMUs)和4個(gè)前置放大器(用于高電阻測(cè)量),可以自動(dòng)進(jìn)行這些測(cè)量,而不需可編程開(kāi)關(guān)。

HN17A極速互感器檢定裝置 

微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀
該裝置由
HN17A極速互感器校驗(yàn)儀、電流負(fù)載箱、控制柜、電流互感器測(cè)試臺(tái)等幾個(gè)部分組成。在保持原技術(shù)特點(diǎn)的前提下,在電流互感器的快速測(cè)量、測(cè)試點(diǎn)的快速、以及負(fù)荷箱、變比的互感器覆蓋等方面有了很大的提高。

智能技術(shù)讓監(jiān)控設(shè)備具備自主感知、圖像識(shí)別、深度學(xué)習(xí)能力,將安防監(jiān)控的事后取證延伸到事前預(yù)警、事中快速處置、事后海量數(shù)據(jù)的證據(jù)鏈的檢索等,從而程度提升監(jiān)控的效率。在紅外攝像機(jī)上加入智能功能,限度的解放了人力,目前它不僅實(shí)現(xiàn)對(duì)事件結(jié)果的和融合應(yīng)用,還可以形成對(duì)事件內(nèi)在發(fā)展規(guī)律的結(jié)果輸出,輔助科學(xué)決策,快速解決實(shí)際的問(wèn)題。為了將熱成像與人工智能進(jìn)行結(jié)合,擴(kuò)充熱成像技術(shù)的延展性,F(xiàn)LIR將其世界的長(zhǎng)波紅外(LWIR)技術(shù)和Movidius行業(yè)的視覺(jué)處理單元(VPU)集成到一個(gè)熱成像內(nèi)核中,使其能夠在低功耗下進(jìn)行先進(jìn)的圖像處理,為其熱成像產(chǎn)品帶來(lái)人工智能。微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀

 主要特點(diǎn)     

1、該互感器檢定裝置細(xì)調(diào)節(jié)采用了程控源技術(shù),使測(cè)試點(diǎn)的更加快速、準(zhǔn)確。

2、該互感器檢定裝置在多只電流互感器測(cè)量速度方面有了質(zhì)的提高,在3-5分鐘的時(shí)間里可測(cè)量十二只任何變比的電流互感器。

3、極速互感器檢定裝置配置了1A、5A的標(biāo)準(zhǔn)電流互感器,電流負(fù)荷箱配置了1A、5A負(fù)載值2.5VA-80VA,電壓負(fù)載箱配置了100V、100/1.732負(fù)載值從1.25VA-158.75VA基本上可滿足用戶的要求。負(fù)載箱在測(cè)量時(shí)可進(jìn)行自動(dòng)切換。

 4、此互感器檢定裝置可進(jìn)行互感器的規(guī)程和非規(guī)程的測(cè)量,測(cè)量時(shí)用戶可對(duì)任何百分點(diǎn)的測(cè)量。

有沒(méi)有一個(gè)曝光時(shí)間能夠**涵蓋一個(gè)場(chǎng)景的溫度變化,并測(cè)量該場(chǎng)景的所有冷熱物體?沒(méi)有,但有另一個(gè)選項(xiàng)。解決方案:FLIR超幀技術(shù)FLIR超幀技術(shù)指的是,在一個(gè)快速的連續(xù)時(shí)間內(nèi),以逐漸加快的曝光時(shí)間拍攝一組4幅具有代表性的場(chǎng)景圖像(子幀),然后重復(fù)這個(gè)循環(huán)。每次循環(huán)的子幀被合并為一個(gè)超幀,如我們所知,這個(gè)超幀結(jié)合了曝光時(shí)間不同的4個(gè)子幀的特性。這一過(guò)程稱為疊加。采用這種方式,疊加算法生成的超幀圖像對(duì)比度高,溫度范圍廣。微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

2、測(cè)量范圍:
   同相分量(%):0.0001~200.0       分辨率:0.0001
   正交分量(分):0.001~700.0       分辨率:0.001
   阻抗(W):0.0001~20.0         分辨率:0.0001
   導(dǎo)納(ms):0.0001~20.0        分辨率:0.0001

20世紀(jì)80年始,非制冷紅外焦平面陣列探測(cè)器在美國(guó)支持下發(fā)展起來(lái)的,在1992年研發(fā)完成后才對(duì)布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研制的BST熱釋電探測(cè)器和霍尼韋爾研制的氧化釩(VOx)微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。后來(lái)由于熱釋電技術(shù)本身的一些局限性,微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器逐漸勝出。2009年,L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測(cè)器。之后,法國(guó)的CEA/LETI以及德州儀器公司又分別研制了非晶硅(a-Si)微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。微型互感器校驗(yàn)儀 微型互感器誤差檢定裝置 變頻式互感器測(cè)試儀

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