安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 回路電阻測試儀校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN系列 兆歐表檢定裝置 30年經(jīng)驗

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10T半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點。從少量到大量泄漏泄漏的嚴重程度由氣體流速表示。氣流由Hi-flowSampler而非熱像儀測得。氣體流速小于.1立方英尺/分鐘(cfm)被視為輕度泄漏，.1至.5cfm被視為中度泄漏，大于.5cfm被視為重度泄漏。檢測人員共發(fā)現(xiàn)1,977處泄漏。其中65%，或者說1,291處泄漏，為輕度泄漏。其中32%，或者說63處泄漏，為中度泄漏。另外3%，或者說56處泄漏，為重度泄漏。發(fā)現(xiàn)的泄漏僅為.1cfm，而泄漏達7.85cfm。

HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度：1級  0.5級  0.2級當轉(zhuǎn)換開關(guān)K與零線接通時，測試儀所采樣的是中線與外殼間的泄漏電流；當K與相線接通時，測試的是相線與外殼間的泄漏電流。必須注意的是：K與零線接通或K與相線接通，泄漏電流不一定相同。這是因為家用電器絕緣弱點的位置是隨機的。泄漏電流測試應(yīng)通過K轉(zhuǎn)換極性，取其中的較大值作為被測電熱的泄漏電流值。測試注意事項在工作溫度下測量泄漏電流時，如果被測電器不是通過隔離變壓器供電，被測電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。

HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計：10-100HzTEMCELL一般只找方值，使測試結(jié)果對擺放的位置比較敏感。另外，還有一種測試工具較箱，有的設(shè)計公司用來對天線進行有源測試，這種方法很不可行。一方面由于測試距離太近，另一方面由于沒有足夠的吸波材料，外部干擾對天線的測試影響比較大，這樣導(dǎo)致測試結(jié)果對位置比較敏感，稍微改變一下位置測試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測試方法對天線的性能沒有多少的參考意義。用耦合測試板測試天線性能在生產(chǎn)過程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進行天線的耦合測試。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標準表用。結(jié)論是：一段高阻抗線可以等效為電感，一段低阻抗線等效為一個到地電容。（如果理解傳輸線的特征阻抗用微分形式的集總參數(shù)表示為sqrt（L/C），高阻L一定很大，低阻C一定很大，就可以比較形象的理解此等效原理。）高低阻抗線等效電路3.平面低通設(shè)計實列一個平面低通遵循下列設(shè)計步驟。1)規(guī)劃高低阻抗線阻抗，高阻受限于線條加工能力和功率容量，一般小功率應(yīng)用可以取到0.15mm，低阻寬度受到濾波器尺寸限制，受到長寬比限制。

HN8068A型回路電阻測試儀，直流電阻測試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

回路電阻測試儀校驗儀 泄漏電流測試儀檢定裝置 HN系列 兆歐表檢定裝置 30年經(jīng)驗紅外攝像機因為無損檢測使用的紅外攝像機要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時間分辨率的高幀速率。每個像素的空間分辨率由與紅外攝像機一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測大型目標和精細區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機。2.光激發(fā)無損檢測-光學增強方法的基本原理為光激發(fā)無損檢測裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過瞬間燈光激發(fā)使測量對象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過程中，通過圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時間相位滯后。