HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)大電流恒流源 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 大電流溫升測(cè)試儀 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開(kāi)發(fā)的專(zhuān)業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開(kāi)關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。檢查機(jī)箱泄漏的工具是近場(chǎng)。將近場(chǎng)靠近機(jī)箱上的接縫和開(kāi)口處，觀察頻譜儀上是否有感興趣的信號(hào)出現(xiàn)。一般由于的靈敏度較低，即使用了放大器，很弱的信號(hào)在中感應(yīng)的電壓也很低，因此在測(cè)量時(shí)要將頻譜儀的靈敏度調(diào)得盡量高。根據(jù)前面的討論，減小頻譜儀的分辨帶寬能夠提高儀器的靈敏度。但是要注意的是，當(dāng)分辨帶寬很窄時(shí)，掃描時(shí)間會(huì)變得很長(zhǎng)。為了縮短掃描時(shí)間，提高檢測(cè)效率，應(yīng)該使頻譜儀的掃描頻率范圍盡量小。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 無(wú)線充電技術(shù)前期主要是應(yīng)用在的充電中。目前在電動(dòng)汽車(chē)行業(yè)上無(wú)線充電技術(shù)也得到了應(yīng)用。各大車(chē)場(chǎng)在幾年前就開(kāi)始著手研究汽車(chē)的無(wú)線充電技術(shù)。從具體的技術(shù)原理及解決方案來(lái)說(shuō)，目前無(wú)線充電技術(shù)主要有電磁感應(yīng)式、磁共振式、無(wú)線電波式、電場(chǎng)耦合式四種基本方式。這幾種技術(shù)分別適用于近程、中短程與遠(yuǎn)程電力傳送。這幾種方式的比較如下圖所示。對(duì)于無(wú)線充電技術(shù)的應(yīng)用，其實(shí)各大廠商已經(jīng)先后推出了支持無(wú)線充電的電動(dòng)汽車(chē)。早在2013年，日產(chǎn)便選擇旗下銷(xiāo)量的純電動(dòng)汽車(chē)聆風(fēng)作為推廣無(wú)線充電技術(shù)的車(chē)型。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可平衡的輸出0—2000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開(kāi)口電壓：10V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上（注：不要接到帶電位的輔助觸點(diǎn)）。

2、打開(kāi)儀器側(cè)面空氣開(kāi)關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：USBCAN-8E-U可以8個(gè)CAN口同時(shí)立工作，且可在配置完成后脫離PC立工作，從而大大降低電腦的開(kāi)銷(xiāo)。USBCAN-8E-U4.總結(jié)致遠(yuǎn)電子USBCAN-E-U、USBCAN-2E-U、USBCAN-4E-U、USBCAN-8E-U均支持底層計(jì)時(shí)，USBCAN-8E-U更是擁有多達(dá)8路立CAN通信接口，因此特別適合于大數(shù)量、分布式的CAN設(shè)備老化測(cè)試。豐富的接口及函數(shù)庫(kù)資源可快速用于產(chǎn)品可發(fā)及測(cè)試，隔離模塊絕緣電壓DC2500V，靜電等級(jí)接觸放電達(dá)±8KV，程度提高了CAN接口卡工作**系數(shù)，保證測(cè)試**。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。在開(kāi)始工作前檢測(cè)設(shè)備可減少因測(cè)試設(shè)備的原因造成耐壓測(cè)試的誤判斷。但是在檢測(cè)設(shè)備的不斷自動(dòng)化情況下，必須注意即使每天在初工作前進(jìn)行了點(diǎn)檢，而且無(wú)任何問(wèn)題開(kāi)始了工作，但因一次自動(dòng)機(jī)械設(shè)備的狀況引起的接觸，直至下次點(diǎn)檢，都有可能沒(méi)被注意。壞時(shí)，有可能次品混入于一整天的生產(chǎn)產(chǎn)品中。怎樣才能避免以上情況的發(fā)生呢？在此，介紹幾種實(shí)際的操作方法，以及方法的優(yōu)缺點(diǎn)。使用繼電器的方法關(guān)閉繼電器進(jìn)行耐壓測(cè)試。