HN11C高壓開關(guān)綜合測(cè)試儀高壓斷路器儀 HN11C系列 B型剩余電流保護(hù)器測(cè)試儀 質(zhì)量皮實(shí)
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電干擾！老化測(cè)試一般的老化測(cè)試時(shí)對(duì)部分儀器儀表進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間通電運(yùn)行，并測(cè)量其平均無(wú)故障工作時(shí)間，總結(jié)這些儀器儀表的故障特點(diǎn)，找出它們的共性問(wèn)題加以解決。環(huán)境試驗(yàn)環(huán)境試驗(yàn)一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗(yàn)內(nèi)容，并按照規(guī)定的方法進(jìn)行試驗(yàn)。環(huán)境試驗(yàn)一般只對(duì)小部分產(chǎn)品進(jìn)行，常見的環(huán)境試驗(yàn)內(nèi)容和方法如下：。溫度試驗(yàn)用以檢查溫度環(huán)境對(duì)儀器儀表的影響，確定儀器儀表在高溫和低溫條件下工作和儲(chǔ)存的適應(yīng)性，它包括高溫和低溫負(fù)荷試驗(yàn)、高溫和低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控制模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；目前許多場(chǎng)用這種測(cè)試方法，但是其非常危險(xiǎn)，因?yàn)槭静ㄆ魍ǖ琅c地，通道與通道之間都是不隔離的，所以測(cè)試時(shí)，示波器裸露在外的所有金屬端口，都是帶電的。使用差分測(cè)試使用差分測(cè)試是目前比較規(guī)范的一種方法，通過(guò)處進(jìn)行隔離，避免了輸入輸出共地的情況。但是差分也有局限性，由于測(cè)試通道較多，且屬于易損配件，使用差分會(huì)增大成本。其次，在一些場(chǎng)合中，測(cè)試點(diǎn)往往是較小的孔腳，差分往往是較大的夾環(huán)，實(shí)際中很難測(cè)試，從而導(dǎo)致許多工程師使用剪掉示波器供電插頭地腳的方法進(jìn)行測(cè)試。

速度定義：提供了常用的開關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特別設(shè)置

U盤存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書就能簡(jiǎn)單使用。I2C總線是一種由PHILIPS公司開發(fā)的兩線式串行總線，用于連接微控制器及其外圍設(shè)備。I2C總線產(chǎn)生于在80年代，初為音頻和設(shè)備開發(fā)，如今主要在服務(wù)器管理中使用，其中包括單個(gè)組件狀態(tài)的通信可隨時(shí)監(jiān)控內(nèi)存、硬盤、網(wǎng)絡(luò)、系統(tǒng)溫度等多個(gè)參數(shù)，增加了系統(tǒng)的**性，方便了管理。I2C總線特點(diǎn)I2C總線主要的優(yōu)點(diǎn)是其簡(jiǎn)單性和有效性。由于接口直接在組件之上，因此I2C總線占用的空間非常小，減少了電路板的空間和芯片管腳的數(shù)量，降低了互聯(lián)成本。